Cordouan Technologies 的最新型纳米粒度分析仪代表着纳米粒度分析 DLS 技术的新进展。该仪器是纳米粒度表征行业第一次实现对胶体悬浮液中各向异性纳米颗粒的长度和宽度的测量。

 

 

主要特点和优势

三合一仪器

  • DLS、SLS 和 DDLS 模式
  • 30° 至 150° 多角度散射检测系统
  • 根据 2 种偏光角度(VV 和 VH)进行检测
  • 粒度、长径比、长度和宽度测量
  • 分子量测量
  • 易于使用的软件 Protheta
  • 数字式相关器——动态时间分辨和数据分析功能
  • 体积小巧

 

产品软件

这款纳米粒度测量专用软件具备下列优点:

  • 方便使用的直观用户界面
  • 用户自定义的标准操作规程 (SOP)

 

  • 数字式相关器
  • 高分辨时间分辨
  • 增强型原始数据处理算法:多模态连续算法 (MCA) 和多模态离散算法 (MDA),以及标准累积量方法。

  • 动力学粒径分布

  • 详尽的溶剂数据库

 

  • 报告模块
  • 模拟模块

 

数据分析

重新加载特点

  • 对过往测试数据进行重新分析
  • 修改分析参数,包括调用不同算法进行比较
  • 自定义时间分辨进行动力学粒径分布分析
  • 新建报告

对比特点

  • 快速对比多份测量文件
  • 叠加相关图和粒度分布
  • 新建对比报告

 

 

分子量计算特点

  • 可计算纳米颗粒的分子量
  • 即使在多重模态分布中也可进行精确计算
  • 实验误差预估

 

 

 

技术参数

粒度范围

粒度:1 nm 至 1 μm

样品浓度

0.0001% 至 10%(重量百分比)(因溶剂而异)

样品池内温度
控制范围

10°C 至 70°C;± 0.1°C(因比色皿材料而异)

样品池

样品池:光学级 QS 圆柱形;10 mm 光程

样品量

>400 μL

样品类型

水溶剂和有机溶剂;pH 值:1-14(因比色皿材料而异)

测量参数设定流程

测量技术

静态光散射 (SLS)、去偏振动态光散射 (DDLS)

激光光源

高度可靠的50 mW 半导体激光器,@635 nm,配备自动光学衰减系统。可根据要求提供其他波长。

探测器

雪崩式光电二极管 (APD)

数据处理算法

实时时间分辨自相关 (TR-DLS)

测量角度

30° 至 150° 范围内的所有角度,步长 ≤ 0.1°

一般参数

计算机接口

USB 2.0 / Windows 10 / 32 或 64 位

尺寸

33 cm x 33 cm x 38 cm(高 x 宽 x 深)

重量

17 kg

电源

100-115/220-240 VAC,50/60 Hz,最大功率 100 W

系统合规性

CE 认证

CE 认证产品——I 类激光产品,EN 60825-1:2001,CDRH

附件和服务

 

2 年保修

 

Protheta® 软件和说明书

 

校准套件(可选)

 

THETIS 多角度DDLS纳米粒度分析仪